Two methods to measure the difference between the phase shifts in a dielectric reflection and a metal one are compared. Both methods consist of using a Smith-type interferometer, and they differ in the analyzer used. © 1991, Optical Society of America.
Documento: | Artículo |
Título: | How to increase the sensitivity in a polarization interferometer |
Autor: | Echarri, R.M.; Simon, J.M.; Simon, M.C. |
Filiación: | Departamento de Fisica, Facul-tad de Ciencias Exactas y Naturales Ciudad Universi-taria, Pab. 1, Buenos Aires, 1428, Argentina |
Año: | 1991 |
Volumen: | 30 |
Número: | 31 |
Página de inicio: | 4483 |
Página de fin: | 4486 |
DOI: | http://dx.doi.org/10.1364/AO.30.004483 |
Título revista: | Applied Optics |
Título revista abreviado: | Appl. Opt. |
ISSN: | 1559128X |
Registro: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/paper/document/paper_1559128X_v30_n31_p4483_Echarri |