Artículo

Estamos trabajando para incorporar este artículo al repositorio
Consulte el artículo en la página del editor
Consulte la política de Acceso Abierto del editor

Abstract:

Two methods to measure the difference between the phase shifts in a dielectric reflection and a metal one are compared. Both methods consist of using a Smith-type interferometer, and they differ in the analyzer used. © 1991, Optical Society of America.

Registro:

Documento: Artículo
Título:How to increase the sensitivity in a polarization interferometer
Autor:Echarri, R.M.; Simon, J.M.; Simon, M.C.
Filiación:Departamento de Fisica, Facul-tad de Ciencias Exactas y Naturales Ciudad Universi-taria, Pab. 1, Buenos Aires, 1428, Argentina
Año:1991
Volumen:30
Número:31
Página de inicio:4483
Página de fin:4486
DOI: http://dx.doi.org/10.1364/AO.30.004483
Título revista:Applied Optics
Título revista abreviado:Appl. Opt.
ISSN:1559128X
Registro:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/paper/document/paper_1559128X_v30_n31_p4483_Echarri

Referencias:

  • Born, M., Wolf, E., (1975) Principles of Optics, , Pergamon, Oxford
  • Sommerfield, A., Vorlesungen iiber Theoretische Physik (1959) Band, 4. , OptikAkademische Verlagsgesellschaft, Leipzig
  • Simon, M.C., Simon, J.M., Garea, M.T., Phase shift in dielectric reflection (1987) Appl. Opt., 26, pp. 3871-3877
  • Simon, M.C., Perez, L., Reflexion metalica: Coeficientes de reflexion y contraste de franjas Opt. Pura Appl. (To Be Published)
  • Frangon, M., Mallick, S., (1971) Polarization Interferometers, , Wiley Interscience, New York

Citas:

---------- APA ----------
Echarri, R.M., Simon, J.M. & Simon, M.C. (1991) . How to increase the sensitivity in a polarization interferometer. Applied Optics, 30(31), 4483-4486.
http://dx.doi.org/10.1364/AO.30.004483
---------- CHICAGO ----------
Echarri, R.M., Simon, J.M., Simon, M.C. "How to increase the sensitivity in a polarization interferometer" . Applied Optics 30, no. 31 (1991) : 4483-4486.
http://dx.doi.org/10.1364/AO.30.004483
---------- MLA ----------
Echarri, R.M., Simon, J.M., Simon, M.C. "How to increase the sensitivity in a polarization interferometer" . Applied Optics, vol. 30, no. 31, 1991, pp. 4483-4486.
http://dx.doi.org/10.1364/AO.30.004483
---------- VANCOUVER ----------
Echarri, R.M., Simon, J.M., Simon, M.C. How to increase the sensitivity in a polarization interferometer. Appl. Opt. 1991;30(31):4483-4486.
http://dx.doi.org/10.1364/AO.30.004483