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Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos
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Guraya, María Mónica; Ascolani, Hugo Del Lujan; Zampieri, G.; Dias da Silva, Jose Humberto; Cisneros, J. I.; Cantão, M.; Marques, F. C. "Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos". (1989). Anales AFA. 01(01): pp. 258-260