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Determination using X-ray reflectometry of the TiO2 coating’s thickness obtained by anodic oxidation
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Vera, M. L.; Ares, Alicia Esther; Rosenberger, M. R.; Lamas, Diego Germán; Schvezov, Carlos Enrique "Determinación por reflectometría de rayos X del espesor de recubrimientos de TiO2 obtenidos por oxidación anódica". (2009). Anales AFA. 21(01): pp. 174-178