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Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples

Gulisano, Adriana María; Fuentes, Néstor Osvaldo "Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples". (1998). Anales AFA. 10(01): pp. 394-397

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