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Resumen:

En el presente trabajo se propone un método para la fabricación de películas nanoestructuradas de Ag por evaporación al vacío en el cual se mide en tiempo real su resistividad por unidad de espesor (p/c) durante el crecimiento de la misma. La incorporación de un comparador de resistencias permite un control del corte de evaporación con el cual se ha logrado repetibilidad en la producción de películas con p/c<10Ω y transmitancia media del 60 % en el espectro visible. Analizamos los efectos de la nanoestructura de las películas delgadas deAg sobre las propiedades electro-ópticas. Encontramos que la conductividad respecto al bulto puede ser menor a baja frecuencia, mientras que mayor en el rango óptico, debido a disipación de energía por la excitación de plasmones

Abstract:

In this paper we propose a method for making Ag nanostructured films by evaporation under vacuum and is measured in real time the resistivity per unit thickness (p/c) for the growth of the same. The incorporation of a resistance comparator provides control of evaporation cut and repeatability in the films production with p/c<10 Ω average transmittance 60 % in the visible spectrum. We analyze the Ag surfaces nanostructure effects for electro-optical properties. We found that the conductivity respect to bulk can be lower at low frequency, while larger in the optical range, due to energy dissipation by plasmonic excitation

Registro:

Título:Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
Autor:Toranzos, V. J.; Ortiz, G. P.; Koropecki, Roberto Román
Fecha:2010
Título revista:Anales AFA
Editor:Asociación Física Argentina
Handle: http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v22_n02_p037
Ciudad:Villa Martelli, Buenos Aires
Idioma:Español
Palabras clave:PELICULAS DELGADAS; NANOESTRUCTURAS; CONDUCTIVIDAD; TRANSMITANCIA
Keywords:THIN FILMS; NANOSTRUCTURES; CONDUCTIVITY; TRANSMITANCE
Año:2010
Volumen:22
Número:02
DOI:https://doi.org/10.31527/analesafa.2011.22.2.37
Título revista abreviado:An. (Asoc. Fís. Argent., En línea)
ISSN:1850-1168
Formato:PDF
PDF:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v22_n02_p037.pdf
Registro:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v22_n02_p037

Citas:

---------- APA ----------
Toranzos, V. J., Ortiz, G. P. & Koropecki, Roberto Román(2010). Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas. Anales AFA, 22(02), 37-41.https://doi.org/10.31527/analesafa.2011.22.2.37
---------- CHICAGO ----------
Toranzos, V. J., Ortiz, G. P., Koropecki, Roberto Román "Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas" . Anales AFA 22, no. 02 (2010): 37-41.https://doi.org/10.31527/analesafa.2011.22.2.37
---------- MLA ----------
Toranzos, V. J., Ortiz, G. P., Koropecki, Roberto Román "Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas" . Anales AFA, vol. 22, no. 02, 2010, pp. 37-41, https://doi.org/10.31527/analesafa.2011.22.2.37
---------- VANCOUVER ----------
Toranzos, V. J., Ortiz, G. P., Koropecki, Roberto Román Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas. An. (Asoc. Fís. Argent., En línea). 2010;22(02): 37-41 . Available from: https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v22_n02_p037