En este trabajo se presenta un método interferométrico sencillo, para la determinación del coeficiente de expansión lineal en sólidos. La muestra de prueba, en forma de barra cilíndrica, se coloca en el interior de una celda especialmente diseñada, que se conecta a un sistema de control de temperatura. En un extremo de la barra se adosa uno de los espejos de un interferómetro de Michelson, estando el otro extremo fijo, de manera que la dilatación de la barra se traduce en una variación del camino óptico que puede medirse en el interferómetro. Para ello, las variaciones de intensidad son registradas por medio de un tubo fotomultiplicador colocado en el centro del patrón de interferencia obtenido a la salida del interferómetro. Se determina la fase módulo 2π de la función intensidad, aplicando el método de la transformada de Fourier. La fase desenvuelta permite determinar la variación de camino óptico y de allí el coeficiente de expansión lineal del material
In this article a simple interferometric method for measuring linear expansion coefficients of solids in terms of the temperature is described. The cylindrical-shape test piece is placed inside a thermostatic box which is connected to a temperature control system. One of the mirrors of the Michelson interferometer is joined on one side of the rod while the other side is fixed, so that the dilatation in the rod is translated into optical path variations which can be determined by the interferometer. For this, the intensity fluctuations are detected by a photomultiplier tube placed on the interference pattern center obtained at the interferometer output. The corresponding phase modulo 2π is determined using the Fourier transform method. The optical path variation is calculated from the corresponding unwrapped phase and then the linear expansion coefficient of the material is determined
| Título: | Determinación interferométrica de coeficientes de expansión lineal para sólidos |
| Título alt: | Thermal expansion coefficient measurements of solids by interferometric device |
| Autor: | Martinez, Carlos César; Alvarez, Liliana; Domínguez, Dante Orlando; Alanís, Elvio Edgardo |
| Fecha: | 2008 |
| Título revista: | Anales AFA |
| Editor: | Asociación Física Argentina |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v20_n01_p191 |
| Ciudad: | Villa Martelli, Buenos Aires |
| Idioma: | Español |
| Palabras clave: | INTERFEROMETRO DE MICHELSON; EXPANSION TERMICA; MICRO-DEFORMACIONES |
| Keywords: | MICHELSON INTERFEROMETER; THERMAL EXPANSION; MICRO-DEFORMATIONS |
| Año: | 2008 |
| Volumen: | 20 |
| Número: | 01 |
| Título revista abreviado: | An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) |
| ISSN: | 1850-1168 |
| Formato: | |
| PDF: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v20_n01_p191.pdf |
| Registro: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v20_n01_p191 |
