Artículo

Spagnotto, Silvana Liz; Solar, Carlos; Nazzarro, Marcelo Sandro; Sapag, Manuel Karim "Espectroscopía fotoelectrónica de rayos-X (XPS) en la caracterización de materiales porosos a partir de arcillas naturales" (2008). Anales AFA. 20(01): pp. 127-133

Resumen:

El desarrollo de nuevos materiales que presenten características físico-químicas adecuadas para ser utilizados en adsorción y catálisis es un tema de interés actual. Entre estos materiales se encuentran las arcillas pilareadas (PILCs), las que se obtienen mediante la sustitución de los cationes intercambiables e interlaminares de las arcillas tipo esmectita, por grandes oligocationes de metales facilmente hidrolizables, los que son anclados entre las láminas por efecto térmico. Esta modificación de las arcillas naturales producen una serie de cambios texturales y estructurales que generalmente mejoran sus propiedades como absorventes y catalizadores para determinadas aplicaciones. En este trabajo se presenta la caracterización de PILCs de aluminio sintetizados en el laboratorio, utilizando como material de partida arcilla natural de la provincia de San Juan, Argentina. Teniendo en cuenta los resultados de caracterización con las técnicas habituales utilizadas para seguir el proceso de síntesis como DRX, ATG, ATD, Adsorción-Desorción de N₂ y Espectroscopía IR, se utiliza una técnica especificamente superficial como lo es la espectroscopía fotoelectrónica de Rayos X, obteniendo información adicional del proceso de síntesis, mostrando el potencial de esta técnica en la caracterización de estos materiales

Abstract:

The development of new materials with specific physical-chemical characteristics to be used in adsorption and catalysis is a subject of interest nowadays. Among these materials are pillared clays (PILCs), that are obtained by the substitution of the exchangeable and interlaminar cations of the smectite for easyly hydrolyzable big metals oligocations, which are anchored between the layers by thermal effect. This modification of natural clays produces a series of textural and structural changes that usually improve their properties as adsorbents and catalysts for certain applications. In this work it is introduced the characterization of the aluminum PILCs synthesized in the laboratory, using natural clay from the province of San Juan, Argentina, as the former material. Taking into account obteined with the standard techniques used to follow the synthesis process such as XRD, ATG, ATD, N₂ Adsorption-Desorption and IR Spectroscopy, it is used a specifically superficial technique the X-ray photoelectron spectroscopy, obtaining additional information about the synthesis process, which demostrate the potential of this technique for the characterization of these materials

Registro:

Título:Espectroscopía fotoelectrónica de rayos-X (XPS) en la caracterización de materiales porosos a partir de arcillas naturales
Título alt:The X-ray photoelectronic spectroscopy (XPS) in the characterization of porous materials from natural clays
Autor:Spagnotto, Silvana Liz; Solar, Carlos; Nazzarro, Marcelo Sandro; Sapag, Manuel Karim
Fecha:2008
Título revista:Anales AFA
Editor:Asociación Física Argentina
Handle: http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v20_n01_p127
Ciudad:Villa Martelli, Buenos Aires
Idioma:Español
Palabras clave:XPS; MONTMORILLONITA; ARCILLAS PILAREADAS; CATIONES DE INTERCAMBIO
Keywords:XPS; MONTMORILLONITE; PILLARED CLAYS; EXCHANGEABLE CATIONS
Año:2008
Volumen:20
Número:01
Título revista abreviado:An. (Asoc. Fís. Argent., En línea)
ISSN:1850-1168
Formato:PDF
PDF:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v20_n01_p127.pdf
Registro:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v20_n01_p127

Citas:

---------- APA ----------
Spagnotto, Silvana Liz, Solar, Carlos, Nazzarro, Marcelo Sandro & Sapag, Manuel Karim(2008). The X-ray photoelectronic spectroscopy (XPS) in the characterization of porous materials from natural clays. Anales AFA, 20(01), 127-133.
---------- CHICAGO ----------
Spagnotto, Silvana Liz, Solar, Carlos, Nazzarro, Marcelo Sandro, Sapag, Manuel Karim. "The X-ray photoelectronic spectroscopy (XPS) in the characterization of porous materials from natural clays" . Anales AFA 20, no. 01 (2008): 127-133.
---------- MLA ----------
Spagnotto, Silvana Liz, Solar, Carlos, Nazzarro, Marcelo Sandro, Sapag, Manuel Karim. "The X-ray photoelectronic spectroscopy (XPS) in the characterization of porous materials from natural clays" . Anales AFA, vol. 20, no. 01, 2008, pp. 127-133.
---------- VANCOUVER ----------
Spagnotto, Silvana Liz, Solar, Carlos, Nazzarro, Marcelo Sandro, Sapag, Manuel Karim. The X-ray photoelectronic spectroscopy (XPS) in the characterization of porous materials from natural clays. An. (Asoc. Fís. Argent., En línea). 2008;20(01): 127-133 . Available from: https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v20_n01_p127