Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples

Gulisano, Adriana María; Fuentes, Néstor Osvaldo

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Gulisano, Adriana María; Fuentes, Néstor Osvaldo "Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples" (1998). Anales AFA. 10(01): pp. 394-397

http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v10_n01_p394

Resumen:

En este trabajo se presentan los primeros resultados de la caracterización fractal de cada una de las múltiples capas que componen una celda fotovoltaica de CdS/CdTe, empleando el método de variogramas múltiples

Abstract:

In this paper the firsts results of fractal characterization of each layer of a CdS/CdTe fotovoltaic cell, using multiple image variography, are presented

Registro:

Título:	Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples
Autor:	Gulisano, Adriana María; Fuentes, Néstor Osvaldo
Fecha:	1998
Título revista:	Anales AFA
Editor:	Asociación Física Argentina
Handle:	http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v10_n01_p394
Ciudad:	Villa Martelli, Buenos Aires
Idioma:	Español
Año:	1998
Volumen:	10
Número:	01
Título revista abreviado:	An. (Asoc. Fís. Argent., En línea)
ISSN:	1850-1168
Formato:	PDF
PDF:	https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v10_n01_p394.pdf
Registro:	https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v10_n01_p394

Citas:

---------- APA ----------

Gulisano, Adriana María & Fuentes, Néstor Osvaldo(1998). Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples. Anales AFA, 10(01), 394-397.

---------- CHICAGO ----------

Gulisano, Adriana María, Fuentes, Néstor Osvaldo. "Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples" . Anales AFA 10, no. 01 (1998): 394-397.

---------- MLA ----------

Gulisano, Adriana María, Fuentes, Néstor Osvaldo. "Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples" . Anales AFA, vol. 10, no. 01, 1998, pp. 394-397.

---------- VANCOUVER ----------

Gulisano, Adriana María, Fuentes, Néstor Osvaldo. Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples. An. (Asoc. Fís. Argent., En línea). 1998;10(01): 394-397 . Available from: https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v10_n01_p394