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Resumen:

En este trabajo se presentan los primeros resultados de la caracterización fractal de cada una de las múltiples capas que componen una celda fotovoltaica de CdS/CdTe, empleando el método de variogramas múltiples

Abstract:

In this paper the firsts results of fractal characterization of each layer of a CdS/CdTe fotovoltaic cell, using multiple image variography, are presented

Registro:

Título:Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples
Autor:Gulisano, Adriana María; Fuentes, Néstor Osvaldo
Fecha:1998
Título revista:Anales AFA
Editor:Asociación Física Argentina
Handle: http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v10_n01_p394
Ciudad:Villa Martelli, Buenos Aires
Idioma:Español
Año:1998
Volumen:10
Número:01
Título revista abreviado:An. (Asoc. Fís. Argent., En línea)
ISSN:1850-1168
Formato:PDF
PDF:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v10_n01_p394.pdf
Registro:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v10_n01_p394

Citas:

---------- APA ----------
Gulisano, Adriana María & Fuentes, Néstor Osvaldo(1998). Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples. Anales AFA, 10(01), 394-397.
---------- CHICAGO ----------
Gulisano, Adriana María, Fuentes, Néstor Osvaldo. "Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples" . Anales AFA 10, no. 01 (1998): 394-397.
---------- MLA ----------
Gulisano, Adriana María, Fuentes, Néstor Osvaldo. "Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples" . Anales AFA, vol. 10, no. 01, 1998, pp. 394-397.
---------- VANCOUVER ----------
Gulisano, Adriana María, Fuentes, Néstor Osvaldo. Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples. An. (Asoc. Fís. Argent., En línea). 1998;10(01): 394-397 . Available from: https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v10_n01_p394