Presentamos un método de laboratorio para la determinación de la constante de Planck relacionado con el funcionamiento de dispositivos optoelectrónicos. El método se basa en conceptos formativos de la teoría de dispositivos de estado sólido y el instrumental necesario es estándar, permitiendo a la vez, obtener muy buenos valores cuantitavos de h. El experimento se lleva a cabo sin cambiar nunca la frecuencia incidente, y formalmente no se necesita medir más que un único par de valores intensidad luminosa- fotocorriente. Estas características de simplicidad lo hacen además ventajoso para ser aplicado aún en cursos numerosos.
We present a method to measure the Planck constant, based on the working principles of optoelectronic devices. The method involves only standard equipment and mantains simple and formative. giving very good cuantitative values of h. The experiment is performed using one single incident frecuency, and formally, there is no need to measure more than one single pair of light intensity-photocurrent values. These characteristics make it suitable to be employed in courses with many students
Título: | Determinación de la constante de Planck usando un fotodiodo de silicio |
Autor: | Albanesi, Eduardo Aldo; Roa, Pablo Fernando; Walz, María Virginia |
Fecha: | 1998 |
Título revista: | Anales AFA |
Editor: | Asociación Física Argentina |
Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v10_n01_p001 |
Ciudad: | Villa Martelli, Buenos Aires |
Idioma: | Español |
Año: | 1998 |
Volumen: | 10 |
Número: | 01 |
Título revista abreviado: | An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) |
ISSN: | 1850-1168 |
Formato: | |
PDF: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v10_n01_p001.pdf |
Registro: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v10_n01_p001 |