Los resistores de película gruesa tipo cermet, ajustados por el método convencional de recorte, sufren cambios irreversibles en ciclos sucesivos de deformación. En este trabajo se evalúa la estabilidad de resistores ajustados por irradiación láser. Se estudian la resistencia, coeficiente térmico de resistencia y factor extensométrico de resistores con y sin tratamiento superficial. La superficie irradiada fue caracterizada por espectroscopia Auger
Conventionally trimmed resistors produce unacceptable resistance drift when stressed. The stability of resistors adjusted by laser irradiation is evaluated.. Measurements of resistance, temperature coefficient of resistance and gauge factor are reported for both as-fired and adjusted resistors. Full surface laser irradiated resistors were inspected by AES
Título: | Propiedades eléctricas y piezorresistivas de resistores de película gruesa |
Autor: | Boffelli, Daniel José María; Broitman, Esteban Daniel; Zimmerman, Rosa |
Fecha: | 1996 |
Título revista: | Anales AFA |
Editor: | Asociación Física Argentina |
Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v08_n01_p198 |
Ciudad: | Villa Martelli, Buenos Aires |
Idioma: | Español |
Año: | 1996 |
Volumen: | 08 |
Número: | 01 |
Título revista abreviado: | An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) |
ISSN: | 1850-1168 |
Formato: | |
PDF: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v08_n01_p198.pdf |
Registro: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v08_n01_p198 |