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Gayone, Julio Esteban; Pregliasco, Rodolfo Guillermo; Sánchez, Esteban Alejandro; Grizzi, Oscar "Caracterización cristalográfica de la superficie GaAs(110) limpia y con hidrógeno adsorbido mediante TOF-ISS" (1995). Anales AFA. 07(01): pp. 77-81

Resumen:

Se utilizó la técnica de espectrometría de iones reflejados con detección por tiempo de vuelo (TOF- ISS) para caracterizar la superficie GaAs(110) limpia y con H adsorbido. A partir del análisis de los efectos de enfoque de las trayectorias de los iones en la superficie limpia se confirmó el modelo de relajación generalmente aceptado para esta superficie. Los ángulos críticos obtenidos experimentalmente se compararon con un cálculo de las regiones de sombra lográndose un muy buen acuerdo. A partir del estudio de los espectros de tiempo de vuelo en función de la dosis de H, se observó que el H adsorbido remueve la relajación superficial. Para una dosis de 2000L de H molecular se obtuvo que el ángulo de inclinación de las cadenas de As y Ga es ω⇒(0±2)°

Abstract:

We have applied Time-of-Flight Ion-Scattering Spectrometry (TOF-ISS) to study a clean and hydrogenated GaAs(110) surface. The experimental critical angles and the scattering features of the ion trajectories for the clean surface are in good agreement with a calculation of the shadowing regions and the accepted surface relaxation model. From the analysis of the TOF spectra as a function of the H exposure we have observed that atomic H removes the surface relaxation. We have obtained a buckling angle o=(0+2)° for a dose of 2000L of molecular H

Registro:

Título:Caracterización cristalográfica de la superficie GaAs(110) limpia y con hidrógeno adsorbido mediante TOF-ISS
Autor:Gayone, Julio Esteban; Pregliasco, Rodolfo Guillermo; Sánchez, Esteban Alejandro; Grizzi, Oscar
Fecha:1995
Título revista:Anales AFA
Editor:Asociación Física Argentina
Handle: http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v07_n01_p077
Ciudad:Villa Martelli, Buenos Aires
Idioma:Español
Año:1995
Volumen:07
Número:01
Título revista abreviado:An. (Asoc. Fís. Argent., En línea)
ISSN:1850-1168
Formato:PDF
PDF:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v07_n01_p077.pdf
Registro:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v07_n01_p077

Citas:

---------- APA ----------
Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo, Sánchez, Esteban Alejandro & Grizzi, Oscar(1995). Caracterización cristalográfica de la superficie GaAs(110) limpia y con hidrógeno adsorbido mediante TOF-ISS. Anales AFA, 07(01), 77-81.
---------- CHICAGO ----------
Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo, Sánchez, Esteban Alejandro, Grizzi, Oscar. "Caracterización cristalográfica de la superficie GaAs(110) limpia y con hidrógeno adsorbido mediante TOF-ISS" . Anales AFA 07, no. 01 (1995): 77-81.
---------- MLA ----------
Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo, Sánchez, Esteban Alejandro, Grizzi, Oscar. "Caracterización cristalográfica de la superficie GaAs(110) limpia y con hidrógeno adsorbido mediante TOF-ISS" . Anales AFA, vol. 07, no. 01, 1995, pp. 77-81.
---------- VANCOUVER ----------
Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo, Sánchez, Esteban Alejandro, Grizzi, Oscar. Caracterización cristalográfica de la superficie GaAs(110) limpia y con hidrógeno adsorbido mediante TOF-ISS. An. (Asoc. Fís. Argent., En línea). 1995;07(01): 77-81 . Available from: https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v07_n01_p077