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Sánchez, Esteban Alejandro; Gómez, G. R.; Gayone, Julio Esteban; Pregliasco, Rodolfo Guillermo; Grizzi, Oscar "Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia" (1995). Anales AFA. 07(01): pp. 72-76

Resumen:

Se utilizó el microscopio de fuerza atómica para estudiar la topografía de superficies conductoras, semiconductoras y aislantes empleadas en experimentos de interacción de iones con la materia. Se comprobó que los ciclos de recocido alternados con bombardeo rasante de Arᶧ a 20 keV producen superficies de GaAs(110) y Al(111) más planas que la técnica convencional de preparación de muestras monocristalinas. Se comparan estos resultados con mediciones de dispersión de iones y de emisión de electrones Convoy por incidencia rasante de protones. Se midió también la rugosidad de láminas delgadas (≈130 Å) autosoportadas de Au empleadas en experimentos de frenamiento de iones en sólidos. Finalmente se muestran imágenes de daño producido por impacto de CIᶧ a 49 MeV en superficies de mica.

Abstract:

We have used the atomic force microscope to study the topography of conductor, semiconductor and insulator surfaces used in experiments of ion-beam interaction with solids. We state that cycles of grazing 20 keV Arᶧ bombardment and anneling produce GaAs(110) and Al(111) surfaces smoother than those prepared by standard methods. We compare these results with measurements of Ion Scattering Spectrometry and Convoy electron emission induced by grazing proton bombardment. We have also measured the roughness of self-suporting Au samples (≈130 Å thikness) used in stopping power experiments. Finally, we show images of ion damage produced by 49 MeV CIᶧ on mica surfaces.

Registro:

Título:Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia
Autor:Sánchez, Esteban Alejandro; Gómez, G. R.; Gayone, Julio Esteban; Pregliasco, Rodolfo Guillermo; Grizzi, Oscar
Fecha:1995
Título revista:Anales AFA
Editor:Asociación Física Argentina
Handle: http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v07_n01_p072
Ciudad:Villa Martelli, Buenos Aires
Idioma:Español
Año:1995
Volumen:07
Número:01
Título revista abreviado:An. (Asoc. Fís. Argent., En línea)
ISSN:1850-1168
Formato:PDF
PDF:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v07_n01_p072.pdf
Registro:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v07_n01_p072

Citas:

---------- APA ----------
Sánchez, Esteban Alejandro, Gómez, G. R., Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo & Grizzi, Oscar(1995). Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia. Anales AFA, 07(01), 72-76.
---------- CHICAGO ----------
Sánchez, Esteban Alejandro, Gómez, G. R., Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo, Grizzi, Oscar. "Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia" . Anales AFA 07, no. 01 (1995): 72-76.
---------- MLA ----------
Sánchez, Esteban Alejandro, Gómez, G. R., Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo, Grizzi, Oscar. "Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia" . Anales AFA, vol. 07, no. 01, 1995, pp. 72-76.
---------- VANCOUVER ----------
Sánchez, Esteban Alejandro, Gómez, G. R., Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo, Grizzi, Oscar. Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia. An. (Asoc. Fís. Argent., En línea). 1995;07(01): 72-76 . Available from: https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v07_n01_p072