Hemos medido la intensidad de electrones reflejados elásticamente sobre Cu(001) como función del ángulo polar de salida y de la energía cinética en el rango de 200-1500 eV. A bajas energías la distribución angular de los electrones presenta picos agudos debidos a la difracción de electrones lentos (LEED). Para E > 500 eV aparecen picos intensos en ángulos correspondientes a ejes cristalográficos principales. Interpretamos que estos picos son originados por el mismo efecto de enfoque que ocurre en la difracción de electrones Auger y fotoelectrones. La importancia de este resultado es que tanto la red recíproca como la red real se pueden explorar en el mismo experimento simplemente variando la energía de los electrones
| Título: | Difracción y enfoque en la dispersión elástica de electrones sobre Cu(001) |
| Autor: | Ascolani, Hugo Del Lujan; Guraya, María Mónica; Zampieri, G. |
| Fecha: | 1990 |
| Título revista: | Anales AFA |
| Editor: | Asociación Física Argentina |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v02_n01_p250 |
| Ciudad: | Villa Martelli, Buenos Aires |
| Idioma: | Español |
| Año: | 1990 |
| Volumen: | 02 |
| Número: | 01 |
| Título revista abreviado: | An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) |
| ISSN: | 1850-1168 |
| Formato: | |
| PDF: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v02_n01_p250.pdf |
| Registro: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v02_n01_p250 |
