Resumen:
Presentamos los resultados de mediciones de fotoemisión de compuestos amorfos hidrogenados no estequiométricos de Si-N con distintos contenidos de N. Analizamos forma y corrimiento de los picos de fotoemisión correspondientes a los niveles internos N - ls y Si - 2p. En base a este último discutimos la homogeneidad de las muestras y la transferencia de carga por ligadura Si-N
Registro:
| Título: | Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos |
| Autor: | Guraya, María Mónica; Ascolani, Hugo Del Lujan; Zampieri, G.; Dias da Silva, José Humberto; Cisneros, J. I.; Cantão, M.; das Chagas Marques, Francisco |
| Fecha: | 1989 |
| Título revista: | Anales AFA
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| Editor: | Asociación Física Argentina |
| Handle: |
http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v01_n01_p258 |
| Ciudad: | Villa Martelli, Buenos Aires |
| Idioma: | Español |
| Año: | 1989
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| Volumen: | 01
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| Número: | 01
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| Título revista abreviado: | An. (Asoc. Fís. Argent., En línea)
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| ISSN: | 1850-1168
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| Formato: | PDF |
| PDF: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v01_n01_p258.pdf |
| Registro: | https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v01_n01_p258 |
Citas:
---------- APA ----------
Guraya, María Mónica, Ascolani, Hugo Del Lujan, Zampieri, G., Dias da Silva, José Humberto, Cisneros, J. I., Cantão, M. & das Chagas Marques, Francisco(1989). Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos. Anales AFA, 01(01), 258-260.---------- CHICAGO ----------
Guraya, María Mónica, Ascolani, Hugo Del Lujan, Zampieri, G., Dias da Silva, José Humberto, Cisneros, J. I., Cantão, M., et al..
"Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos"
. Anales AFA 01, no. 01
(1989): 258-260.---------- MLA ----------
Guraya, María Mónica, Ascolani, Hugo Del Lujan, Zampieri, G., Dias da Silva, José Humberto, Cisneros, J. I., Cantão, M., et al..
"Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos"
. Anales AFA, vol. 01, no. 01, 1989, pp. 258-260.---------- VANCOUVER ----------
Guraya, María Mónica, Ascolani, Hugo Del Lujan, Zampieri, G., Dias da Silva, José Humberto, Cisneros, J. I., Cantão, M., et al.. Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos. An. (Asoc. Fís. Argent., En línea). 1989;01(01): 258-260
. Available from: https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v01_n01_p258
