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Ramos de Debiaggi, Susana Beatriz; Monti, Ana María "Uso del Embedded Atom Model para el estudio de defectos microestructurales" (1989). Anales AFA. 01(01): pp. 179-181

Resumen:

Se estudiaron propiedades de sistemas metálicos puros como el Ni, Al y la aleación Ni₃ Al en presencia de una vacancia. Dichos sistemas fueron cohesionados mediante un potencial interatómico del tipo de Embedded Atom, modelo que fuera propuesto recientemente por Daw y Basques¹, como una mejora sustancial respecto de los tradicionales potenciales de pares. Específicamente se analizó la vacancia en sus configuraciones de equilibrio y de punto de ensilladura, evaluando las energías de formación y de migración de este defecto, y se calcularon entropías vibraciones en redes defectuosas cohesionadas con estos potenciales

Registro:

Título:Uso del Embedded Atom Model para el estudio de defectos microestructurales
Autor:Ramos de Debiaggi, Susana Beatriz; Monti, Ana María
Fecha:1989
Título revista:Anales AFA
Editor:Asociación Física Argentina
Handle: http://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v01_n01_p179
Ciudad:Villa Martelli, Buenos Aires
Idioma:Español
Año:1989
Volumen:01
Número:01
Título revista abreviado:An. (Asoc. Fís. Argent., En línea)
ISSN:1850-1168
Formato:PDF
PDF:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/download/afa/afa_v01_n01_p179.pdf
Registro:https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v01_n01_p179

Citas:

---------- APA ----------
Ramos de Debiaggi, Susana Beatriz & Monti, Ana María(1989). Uso del Embedded Atom Model para el estudio de defectos microestructurales. Anales AFA, 01(01), 179-181.
---------- CHICAGO ----------
Ramos de Debiaggi, Susana Beatriz, Monti, Ana María. "Uso del Embedded Atom Model para el estudio de defectos microestructurales" . Anales AFA 01, no. 01 (1989): 179-181.
---------- MLA ----------
Ramos de Debiaggi, Susana Beatriz, Monti, Ana María. "Uso del Embedded Atom Model para el estudio de defectos microestructurales" . Anales AFA, vol. 01, no. 01, 1989, pp. 179-181.
---------- VANCOUVER ----------
Ramos de Debiaggi, Susana Beatriz, Monti, Ana María. Uso del Embedded Atom Model para el estudio de defectos microestructurales. An. (Asoc. Fís. Argent., En línea). 1989;01(01): 179-181 . Available from: https://bibliotecadigital.exactas.uba.ar/collection/afa/document/afa_v01_n01_p179